第九届精密工程测量与仪器国际学术会议(ISPEMI2014) 成功举办

    由国际测量与仪器委员会(ICMI)、国家自然科学基金委员会(NSFC)、中国计量测试学会 (CSM)和中国仪器仪表学会(CIS)联合主办,哈尔滨工业大学和国际测量与仪器委员会(ICMI)等承办、国防科学技术大学等协办的第九届精密工程测量与仪器国际学术会议(ISPEMI2014)8月8日-10日在湖南长沙成功举办。哈尔滨工业大学精密仪器工程研究院院长谭久彬教授担任大会主席并主持会议。
    中国计量测试学会副理事长兼秘书长马爱文、大会荣誉主席德国联邦物理技术研究院(PTB)精密工程部首席科学家Abou-zeid 教授以及大会合作主席牛津大学Tony Wilson 院士、台湾大学范光照教授等出席会议。
    Abou-zeid 教授、马爱文副理事长和国防科学技术大学领导戴一帆教授等先后在大会开幕式上致辞。

中国计量测试学会副理事长兼秘书长马爱文致辞

    共有来自德国、美国、英国、澳大利亚、瑞典、韩国、俄罗斯、日本等13个国家和地区的260余名代表参加会议。牛津大学Tony Wilson 院士、德国联邦物理技术研究院(PTB) Frank Härtig教授、华盛顿大学圣路易斯分校Lihong V. Wang 教授、欧洲纳米中心主任、Lars Montelius教授、澳大利亚斯威本科技大学Saulius Juodkazis教授、英国伯明翰大学Shuang Zhang教授、上海理工大学朱亦鸣教授等7位国际著名专家学者作了大会特邀报告。

大会主席谭久彬教授致辞并主持会议

现场照片

    会议研讨内容涉及仪器理论与方法学、新原理仪器与系统、超精密传感技术、先进光学加工与测量技术、微/纳制造与测量技术、激光测量与仪器技术和光电仪器技术等前沿方向和仪器学科领域重大热点问题。
    会议共组织了16个分会、口头报告97篇、专题邀请报告27篇、张贴报告129篇。
    本次会议收到论文380余篇,收录论文225篇。国际光学工程学会(SPIE)作为本系列会议的协办单位,论文全部收入SPIE出版的论文集,并由EI全部收录。优秀论文推荐到SCI期刊Journal of MicroScopy、Surface Topography: Metrology & Properties。